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半導體分選行業(yè)的相關(guān)術(shù)語
2024-11-22 17:14
半導體分選行業(yè)的相關(guān)術(shù)語但不限于以下這些專業(yè)名詞：
1. ATE (Automatic Test Equipment)：自動測試設備，用于檢測集成電路功能之完整性，是集成電路生產(chǎn)制造的最后一道流程，確保產(chǎn)品質(zhì)量。
2. DUT (Device Under Test)：待測設備，通常指半導體行業(yè)中的電子元器件或芯片。
3. PIB (Prober Interface Board)：探針接口板，用于在半導體器件封裝前的測量，與自動測試設備(ATE)之間建立電氣連接。
4. Handler：自動分選機，用于自動分類已測芯片的機器，必須與測試機相連接對接后進行測試。
5. Prober：探針臺，用于晶圓測試的機器，使測試信號通過探針或探針卡傳輸?shù)骄系母鱾€設備。
6. Pogo Tower：探針塔，是機械上精確排列的彈簧觸點，用于測試系統(tǒng)補償插入損耗和信號。
7. Docking：對接，指ATE測試設備中與Prober（探針臺）界面連接的那塊板的對接方式。
8. PCB (Printed Circuit Board)：印制電路板，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的載體。
9. Probe Card (PC)：探針卡，是晶圓測試中被測芯片和測試機之間的接口，用于對芯片電學性能進行初步測量。
10. Wafer：晶圓，由純硅（Si）構(gòu)成，是集成電路制作所用的硅晶片。
11. Die：晶?；蚵闫?，指尚未封裝的全功能芯片，一個晶圓由許多晶粒組成。
12. Chip：芯片，集成電路（IC）基本上是一種電子電路，它將許多不同的設備集成到一塊硅片上。
這些術(shù)語是半導體分選行業(yè)中的關(guān)鍵詞匯，對于理解行業(yè)技術(shù)、產(chǎn)品和流程至關(guān)重要。
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